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專注光譜分析
光譜分析設備產(chǎn)品生產(chǎn)家18962188051
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簡要描述：XRF EDX-9000B能量色散X熒光光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。
產(chǎn)品廠地：蘇州市廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-10-30訪 問 量：2098產(chǎn)品分類
詳細介紹
| 品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
| 應用領域 | 環(huán)保,石油,地礦,電子/電池,綜合 |
XRF EDX-9000B能量色散X熒光光譜儀
>美國AmpTek -SDD探測器, 高分辨率高計數(shù)率
>真空測試環(huán)境提供zuiyou輕元素檢測效果
>無損元素分析涵蓋11Na to 92U
>適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿
>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限
>堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現(xiàn)場工作環(huán)境
XRF EDX-9000B能量色散X熒光光譜儀
作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX9000B配置了zuixian進的基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了zuiyou的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結(jié)果，更穩(wěn)定的儀器性能， 使得EDX9000B成為了客戶進行元素分析的最佳工具之一。
ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。
EDX9000B專注于對地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：
•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等
XRF EDX-9000B能量色散X熒光光譜儀
EDX9000B操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用
>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析
>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析
>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等
>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等
>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等
>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等
產(chǎn)品特點
作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設計和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有：
•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果
•強大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應的影響
•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同時進行元素和氧化物成分分析
•多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全
•特別設計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性都有了明顯的提高
•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像
•八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差
•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位
礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm |
超大樣品腔：460mm*310mm*95mm |
半封閉樣品腔（抽真空時）：Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 45Kg |
元素分析范圍：Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍：1ppm- 99.99% |
探測器：AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管：50W高功率鈹窗光管 |
高壓發(fā)生裝置：電壓最大輸出50kV，自帶電壓過載保護 |
電壓：220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度：-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標準配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標樣 | 磨樣機 |
真空泵 | 壓片機 |
礦石專用樣品杯 | 烘干箱 |
USB數(shù)據(jù)線 | 熔片機 |
電源線 | 電子秤 |
測試薄膜 | 礦石標準樣 |
儀器出廠和標定報告 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
保修卡 | 150目篩子 |
功能強大而界面友好的測試軟件
界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。
軟件內(nèi)核-基本參數(shù)法（FP）可輕松分析未知樣品。
EDX9000B已在工廠預安裝了軟件并進行了數(shù)據(jù)標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了
>一鍵初始化儀器，基體自動匹配
>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比
>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響
>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度
>可實時刷新測量結(jié)果
>簡單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標定曲線
>可定制化測試報告，一鍵打印
磁鐵礦樣品10次測試穩(wěn)定性報告
測量次數(shù) | Fe(%) | SiO2(%) | TiO2(%) | MnO(%) | Zn(%) | S(%) | P(%) | Pb(%) | K2O(%) |
1_1 | 65.4014 | 6.6936 | 0.1123 | 0.0489 | 0.0090 | 0.8309 | 0.0118 | 0.0076 | 0.0684 |
1_2 | 65.4336 | 6.6575 | 0.1038 | 0.0465 | 0.0095 | 0.9092 | 0.0121 | 0.0075 | 0.0667 |
1_3 | 65.3603 | 6.7127 | 0.1132 | 0.0495 | 0.0093 | 0.8903 | 0.0119 | 0.0071 | 0.0677 |
1_4 | 65.3935 | 6.7233 | 0.1278 | 0.0483 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0068 | 0.0684 |
1_5 | 65.3812 | 6.7145 | 0.1058 | 0.0493 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0066 | 0.0684 |
1_6 | 65.3905 | 6.7421 | 0.1021 | 0.0503 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0065 | 0.0684 |
1_7 | 65.3603 | 6.7041 | 0.1075 | 0.0495 | 0.0093 | 0.8903 | 0.0119 | 0.0071 | 0.0677 |
1_8 | 65.4161 | 6.7280 | 0.1086 | 0.0461 | 0.0093 | 0.8938 | 0.0115 | 0.0074 | 0.0668 |
1_9 | 65.4320 | 6.7036 | 0.1182 | 0.0512 | 0.0096 | 0.9005 | 0.0120 | 0.0079 | 0.0669 |
1_10 | 65.4546 | 6.7707 | 0.1072 | 0.0502 | 0.0097 | 0.8868 | 0.0121 | 0.0067 | 0.0677 |
平均值Average | 65.4024 | 6.7150 | 0.1107 | 0.0490 | 0.0095 | 0.8693 | 0.0118 | 0.0071 | 0.0677 |
標準偏差SD | 0.0316 | 0.0300 | 0.0077 | 0.0016 | 0.0002 | 0.0340 | 0.0002 | 0.0005 | 0.0007 |
相對標準偏差RSD | 0.0483% | 0.4466% | 6.9348% | 3.3142% | 2.5743% | 3.9090% | 1.6512% | 6.6142% | 1.0337% |
測量次數(shù) | Na2O (%) | MgO (%) | Al2O3 (%) | As (%) | Cr (%) | Ni (%) | Cu (%) | Sn (%) | CaO (%) |
1_1 | 0.0203 | 0.7523 | 0.5222 | 0.0065 | 0.1636 | 0.0760 | 0.0476 | 0.0131 | 0.6359 |
1_2 | 0.0232 | 0.8134 | 0.5230 | 0.0061 | 0.1584 | 0.0787 | 0.0488 | 0.0114 | 0.6336 |
1_3 | 0.0213 | 0.8059 | 0.5407 | 0.0071 | 0.1667 | 0.0796 | 0.0494 | 0.0144 | 0.6345 |
1_4 | 0.0216 | 0.7635 | 0.5234 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0761 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_5 | 0.0223 | 0.7815 | 0.5334 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0751 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_6 | 0.0222 | 0.7311 | 0.5512 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0741 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_7 | 0.0212 | 0.7559 | 0.5407 | 0.0071 | 0.1667 | 0.0756 | 0.0494 | 0.0144 | 0.6345 |
1_8 | 0.0249 | 0.7737 | 0.5233 | 0.0068 | 0.1576 | 0.0760 | 0.0471 | 0.0131 | 0.6324 |
1_9 | 0.0204 | 0.7712 | 0.5123 | 0.0064 | 0.1659 | 0.0750 | 0.0475 | 0.0140 | 0.6241 |
1_10 | 0.0236 | 0.8017 | 0.5435 | 0.0071 | 0.1663 | 0.0730 | 0.0489 | 0.0130 | 0.6414 |
平均值Average | 0.0221 | 0.7750 | 0.5314 | 0.0069 | 0.1637 | 0.0759 | 0.0484 | 0.0133 | 0.6317 |
標準偏差SD | 0.0015 | 0.0261 | 0.0123 | 0.0004 | 0.0033 | 0.0020 | 0.0008 | 0.0009 | 0.0054 |
相對標準偏差RSD | 6.6056% | 3.3702% | 2.3177% | 5.8244% | 1.9863% | 2.5892% | 1.6256% | 6.5508% | 0.8578% |
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