使用礦石分析儀EDX9000B光譜儀測定金砂中的金和鉑含量

運用 X射線熒光光譜儀EDX9000B分析金砂中的金和鉑含量是靈敏、快捷的一種分析方法。樣品經充分研磨和干燥后, 以硼酸鹽為熔劑, 在一定溫度下熔融制片。再利用礦石分析儀EDX9000B快速測定其中金和鉑的含量成分。

目前金的分析方法主要有碘量法、光度法、原子吸收法、ICP- AES法和氫醌滴定法等

。這些方法大多需先用王水或強酸溶解, 缺點是如果溶解不*或分離與富集不*, 難以達到無損試樣的分析要求。密度法是測定已知雜質含量的黃金成色。雖然它是無損檢測, 但有一定的技術難度, 所以用得較少。X射線熒光光譜分析法 ( XRF)用于物質成分分析, 檢出限可達ppm級別。

該方法強度測量的再現性好, 便于無損分析, 分析速度快, 應用范圍廣。

EDX9000B礦石分析儀的基本XRF原理

來自 X射線管具有足夠能量的初級 X 射線與試樣中的原子發生碰撞, 并從該原子中逐出一個內

層電子, 此殼層就形成一個空穴, 隨后由較外層的一個電子躍遷來填充此空穴; 同時, 發射出二次 X 射線光電子, 即熒光 X 射線。光子的能量等于完成兩個殼層之間躍遷的能量差, 即該原子的特征 X 射線。根據探測該元素特征 X射線的存在與否, 可以進行定性分析, 根據其強度的大小可作定量分析。

樣品制備

研磨

將通過 2 mm 篩的金黃色黃砂粗樣品倒入研缽內, 充分研碎 (粒徑 < 75 Lm), 放入恒溫干燥箱中在105 e 下干燥 1~ 5 h, 取出, 自然冷卻, 稱取少量樣品熔融制片。

熔融制片

準確稱取研磨后試樣 1. 000 g、熔劑 5. 000 g, 置于鉑金坩堝內; 將鉑金坩堝放入高溫電阻爐中, 設定熔樣溫度在 1 000 e 左右, 前靜止時間約 2 m in, 爐體擺動約 10 m in, 后靜止約 3 m in; 待樣品熔化*后, 取出坩堝, 于空氣中冷卻; 待樣片冷卻后, 將樣片逐個放入 X 射線熒光光譜儀中測強度。

采用 X 射線熒光分析儀EDX9000B測定金砂中金和鉑的含量是一種比較快速而又全面的分析方法。對粗樣品充分研磨, 并且干燥時間在 4 h以上, 然后以四硼酸鋰為熔劑, 熔樣制片溫度在 1 100 e 時, 測得金和鉑含量值穩定。